概要

XRF ゴールド アナライザ- EDX 6000

蛍光X線(XRF)は、高エネルギーX線またはガンマ線を用いて被爆して励起された物質からの特徴的な「二次」(または蛍光)X線の放出である。この現象は、特に金属、ガラス、セラミックス、建築材料の調査、地球化学、法医学、考古学、絵画などの美術品の研究において、元素分析や化学分析に広く使用されています。

ESI XRFゴールドアナライザEDX 6000は、銀、プラチナ、PGMの金属や不純物をその場で分析し、顧客の信頼を高め、ディーラーの信頼性を確保するための簡単な方法を提供します。

利点

>ESIの研究者は、元素分析、金属正極材料同定に利用されるXRF分析装置の較正されたQCのための改良された認定基準材料を開発しました。

>すべてのESI製品は、業界トップ志向の職業によって特別に製造され、当社のエンジニアと研究者は継続的に新製品を開発し、顧客の要求と業界の課題を満たすために製品品質を向上させ続けます。

>新しく設計されたサンプルへのX線撮影の直接角度は、リングやネックレスなどの曲がりくねったサンプルの最終結果へのサンプル形状の影響を避けます。

図1-1 EDX-6000 X線角度/図1-2 ノーマルX線エンジェル

XRF のしくみ

X線は、材料中に存在する要素をイオン化または「励起」するユニークな能力を有する。イオン化された元素がリラックスした状態または安定した状態に戻ると、エネルギーレベルがこれらのX線を放出する特定の要素の「シグネチャ」である蛍光X線を放出します。

ESI XRF分析装置は、この現象を利用して、電離X線を試料に送り、戻る蛍光X線のエネルギーレベル(要素の「シグネチャ」)を測定し、これらのX線を数えて、存在する個々の要素の相対的な濃度を決定します。

複雑な反復計算を通じて、オンボードコンピュータはサンプルの完全な元素分析を提供し、それをユーザーに表示します。このすべては、通常5秒未満で提供される正確な結果で、わずか数秒で行われます。分析結果は、Excel テスト レポートのアナライザーにローカルに保存されます。

仕様

組成範囲:2ppm~100%

繰り返し性: RSD≤0.05% Au≥90%

サンプルタイプ:固形、粉末、液体

興味の要素:Au、Ag、Pt、Pd、Ru、Rh、W、Os、Ir、

検出器: 165ev解像度のシリコンピン検出器

基本金属:Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn、Pbなど

チューブ電圧:5KV~50KV

HVユニット:0~50KV

チューブ電流:0μA~1000μA

サンプル表示システム: 高解像度カメラ

サンプルチャンバ寸法:310*280*60(mm)

テスト時間:3秒~100秒

計器寸法:380*372*362(mm)

楽器重量:31Kg

直感的なインターフェイスを備えたユーザーフレンドリーなFP(基本パラメータ)ベースのソフトウェア

Htek EDX-6000 6000テストの性能

認定金合金規格におけるAuのHtek EDX-6000精度

認定金合金規格のPtのHtek EDX-6000精度

http://ja.esi-xrf.com/